公司要求做个高速信号采集设备，打算用CH732进行USB数据传输。预实验用AT89C52和CH732做个最简单的电路，见附件。

电路搭建好后，在Keil中编写程序如下：

#include #include

//CH37X的命令 #define GET_IC_VER 0x01 //获取芯片及固件版本

//命令使能地址 1 命令 0 数据 #define A0_CMD 0x01 #define A0_DATA 0x00

//数据地址 #define DATA_ADD P1

//命令端口 sbit A0 = P3^3;

void main (void){ unsigned char val;

//发送检查版本号命令 DATA_ADD = GET_IC_VER; A0 = A0_CMD; RD = 0x01; WR = 0x00;

//读取数据 A0 = A0_DATA; WR = 0x01; RD = 0x00; val = DATA_ADD & 0x3F;

while(1){ } }

用仿真器跟踪，发现每次读取P1都是0x00，不知道原因，换了其他命令（如CHECK_EXIST）也是如此。

请大侠们帮我看看，十分感谢！

C6电容应该为103，C7电容为104，同时USB口的接线方式为：VCC,D-,D+,GND。同时你的读写函数也有问题： //发送检查版本号命令 DATA_ADD = GET_IC_VER; A0 = A0_CMD; RD = 0x01; WR = 0x00; WR = 0x01;

//读取数据 A0 = A0_DATA; WR = 0x01; RD = 0x00; RD = 0x00; val = DATA_ADD & 0x3F; RD = 0x01;

main( ) 函数开始应该延时50毫秒

请问hcn，我看了CH732的datasheet，说WR和RD是低电位有效，为什么要RD = 0x01？ USB的D+/D-在原理图上确实写反，谢谢！

这些你可以去看下我们的芯片说明书的时序图，拉高是标准的INTEL的并口时序要求的。还有你的写信号在写完之后也需要拉高。

非常感谢hcn，我再仔细检查一下。

另外也谢谢<红桃六>

hcn你好！ 按照你说的，我重新调整了电路中C6/C7，检查了D+/D-，修改了程序如下： void main (void){ unsigned char val; //延时50ms delayus(50000); RD = 0x01; WR = 0x01; //发送命令 DATA_ADD = GET_IC_VER; A0 = A0_CMD; WR = 0x00; WR = 0x01; //延时10us delayus(10); //读取结果 A0 = A0_DATA; RD = 0x00; RD = 0x00; val = DATA_ADD; RD = 0x01; }

但是读出来的结果是0x17，感觉高位丢失了

于是再用CHECK_EXIST命令测试了一下， 输入0x0F,返回0x10， 输入0xF0,返回0x8F， 输入0xAA,返回0x95

高4位始终有点问题，以为线路接错了，反复检查后还是如此，只有再次请教了，谢谢！

不是虚焊？呵呵。

刚才我换算了一下，应该是高三位，其中 第7位 = 输入的数字的高位 第6-5位 = 始终为0

用万用表检查，电路没有接错，重新焊接了，应该没有虚焊，确实比较奇怪了

看看A0是不是一直为1，高位一直为1，可能虚焊，短路，或者在读取数据的时候A0始终为1，都可能出现这种情况。

我估计也是虚焊或短路，集成块很小，手工焊接比较困难，我再仔细弄弄，非常感谢！

重新焊了一块芯片，问题照旧，仔细查阅了论坛中的《CH375和CH372常见问题的解决[讨论]》一文，看到第12问中：

P0 = 0xff // 放在RD=0之前更安全，否则如果之前P0输出0，CH375输出1会短路

会不会是这个原因呢？

于是在我的代码中也加入了一句：

//如果之前DATA_ADD输出0，CH372输出1时会出现短路，导致结果始终为0 DATA_ADD = 0xFF; A0 = A0_DATA; RD = 0x00; RD = 0x00; //相当于延时 res = DATA_ADD; RD = 0x01;

结果一切正常了。看来不是焊接的问题，终于找到原因了。

P1口锁存了你之前发关送的数据，模拟时序方式时，发送完数据要把总线置为1的。 完全就是这个原因