ADC使用之前官方例程中有对ADC做粗校准,这需要一个AIN输入脚必须悬空,这个芯片本来GPIO就不多,这样要使用ADC必须拿出来一个脚悬空比较浪费。
我这边之前项目涉及到用ADC测量锂电池电压(0.0v~4.35v),因为精度需要所以还有会有一个通道AIN测量1.250v基准源(TL432基准源),这样用基准源反算锂电池电压会比较准确
如果用我上面的办法专门一路1.250v基准源输入反算锂电池电压,那么不做粗校准会对CH573系列新品的ADC准确度有明显的影响吗?【核心问题是我这边IO口比较紧张,不想浪费一个IO专门用来悬空丢着,做AD粗校准用】
以下是官方例程↓
/* 单通道采样:选择adc通道0做采样,对应 PA4引脚, 带数据校准功能 */
PRINT( "\n2.Single channel sampling...\n" );
GPIOA_ModeCfg( GPIO_Pin_4, GPIO_ModeIN_Floating );
ADC_ExtSingleChSampInit( SampleFreq_3_2, ADC_PGA_0 );
GPIOA_ModeCfg( GPIO_Pin_5, GPIO_ModeIN_Floating );
RoughCalib_Value = ADC_DataCalib_Rough(); // 用于计算ADC内部偏差,记录到全局变量 RoughCalib_Value中
PRINT( "RoughCalib_Value =%d \n", RoughCalib_Value );